饒建奇

饒建奇

  • 聯絡電話: +886-2-26215656 ext 2729
  • E-mail:jcrau@ee.tku.edu.tw
  • 個人網站:http://teacher.tku.edu.tw/PsnProfile.aspx?u=t995515
  • 學歷:Ph.D., 2000, 國立中正大學資訊工程博士
  • 經歷:淡江大學電機工程學系助理教授
  • 組別:電機資訊組
  • 類別:專任師資
  • 職稱:副教授
  • 授課科目:資訊概論、超大型積體電路測試與可測設計、硬體描述語言
  • 研究領域:超大型積體電路設計與測試、電子設計自動化(EDA)、三維(3D)積體電路設計與封裝測試
期刊論文
學年/期 類別 單位 名稱
92-2 期刊論文 電機系 Built-In Reseeding With Modifying Technique For Bist
99-2 期刊論文 電機系 An Efficient Algorithm to Selectively Gate Scan Cells for Capture Power Reduction
89-1 期刊論文 電機系 A timing driven pseudo exhaustive testing for VLSI circuits
101-1 期刊論文 電機系 Thermal-Aware Test Schedule and TAM Co-Optimization for Three-Dimensional IC
99-1 期刊論文 電機系 Optimal Test Access Mechanism (TAM) for Reducing Test Application Time of Core-Based SOCs
96-2 期刊論文 電機系 A Novel Reseeding Mechanism for Improving Pseudo-Random Testing of VLSI Circuits
96-2 期刊論文 電機系 An Efficient Scheduling Algorithm Based On Multi-frequency TAM for SOC Testing
99-2 期刊論文 電機系 Power-aware compression scheme for multiple scan-chain
99-1 期刊論文 電機系 Power-aware multi-chains encoding scheme for system-on-a-chip in low-cost environment
100-2 期刊論文 電機系 Test Slice Difference Technique for Low-Transition Test Data Compression
89-1 期刊論文 電機系 Tree-Structured LFSR synthesis scheme for pseudo-exhaustive testing of VLSI circuits
97-1 期刊論文 電機系 The Star-Routing Algorithm Based on Manhattan-Diagonal Model for Three Layers Channel Routing
97-1 期刊論文 電機系 The Efficient TAM Design for Core-Based SOCs Testing
100-1 期刊論文 電機系 Multimode ATPG for DVFS Designs
92-2 期刊論文 電機系 以Layout為基礎的高效率多重掃描鍊最佳化
92-2 期刊論文 電機系 An Efficient Multi-Scan-Chain Optimization Using Physical Layout Information
92-2 期刊論文 電機系 The optimal testrail architecture for core-based soc testing
會議論文

 

學年/期 類別 單位 名稱
105-1 會議論文 電機系 使用環形振盪器對TSV預接合測試
105-1 會議論文 電機系 應用無線分散式演算法於重分佈避障之研究
104-1 會議論文 電機系 重分佈層之避障繞線演算法
94-2 會議論文 電機系 A broadcast-based test scheme for reducing test size and application time
93-2 會議論文 電機系 Reconfigurable multiple scan-chains for reducing test application time of SOCs
93-2 會議論文 電機系 A novel reseeding mechanism for pseudo-random testing of VLSI circuits
88-2 會議論文 電機系 A timing-driven pseudo-exhaustive testing of VLSI circuits
91-2 會議論文 電機系 An efficient mechanism for debugging RTL description
99-1 會議論文 電機系 The AB-Filling Methodology for Power-aware At-Speed Scan Testing
98-1 會議論文 電機系 A New Scheme of Reducing Shift and Capture Power Using the X-Filling Methodology
95-1 會議論文 電機系 Design of Dynamically Assignmentable TAM Width for Testing Core-Based SOCs
97-2 會議論文 電機系 Reducing Switching Activity by Test Slice Difference Technique for Test Volume Compression
98-2 會議論文 電機系 Multi-Cycle Compress Technique for High-Speed IP in Low-Cost Environment
98-2 會議論文 電機系 Multi-Chains Encoding Scheme in Low-Cost ATE
101-1 會議論文 電機系 Optimal Unknown Bit Filtering for Test Response Masking
97-1 會議論文 電機系 The Grid-Based Two-Layer Routing Algorithm Suitable for Cell/IP-Based Circuit Design
92-1 會議論文 電機系 A Datapath-Based Debugging Mechanism for RTL Description
92-1 會議論文 電機系 Pseudo-Exhaustively Testing VLSI Circuits Using Enhanced Tree-Structured Scan Chains
92-1 會議論文 電機系 A Core-Based Test Methodology for Fast Multipliers
93-1 會議論文 電機系 An Efficient Low-Overhead Policy for Constructing Multiple Scan-Chains
91-1 會議論文 電機系 A Novel BIST Response Analyzer Based on TLS
96-2 會議論文 電機系 A New Low Power, High Speed Double-Edge Triggered Flip-Flop
94-1 會議論文 電機系 智慧型無線光導盲杖導引系統暨導盲機器人之設計
101-1 會議論文 電機系 Multimode ATPG for DVFS Designs
101-1 會議論文 電機系 An Efficient Test Data Compression Scheme Using Selection Expansion
100-1 會議論文 電機系 Multiple Inputs Selector for High-Speed Masking
97-1 會議論文 電機系 Test Slice Difference Technique for Low Power Testing
99-1 會議論文 電機系 An Filling Methodology for Efficient Compaction of Test Responses with Unknowns
96-2 會議論文 電機系 An Efficient Test-Data Compaction for Low Power VLSI Testing
97-1 會議論文 電機系 An Efficient Scheduling Algorithm for Testing SOC with Multi-Frequency TAM
96-1 會議論文 電機系 A Novel High-Speed SOC Test Scheme Using Virtual TAMs
98-1 會議論文 電機系 A Novel Gated Scan-Cell Scheme for Low Capture Power (LCP) in At-Speed Testing
97-2 會議論文 電機系 A Novel Constructive Data Compression Scheme for Shifting-in Power Reduction with Multiple Scan-chains Design
97-2 會議論文 電機系 A Novel Clock Gating Scheme of Scan Chains for Capture Power Reduction
96-2 會議論文 電機系 A New Double-edge Triggered Design with Low-power consumption and High-speed
95-2 會議論文 電機系 A New Algorithm for Latch-Up Check Based on Look-Up Table
92-1 會議論文 電機系 A Datapath-Based Debugging Mechanism for RTL Description
92-1 會議論文 電機系 The TAM Architecture for Optimal Testing Scheduling of SOC
90-1 會議論文 電機系 The methods to construct imaging circuit for efficient VLSI circuit verification
92-1 會議論文 電機系 An Efficient Reseeding With Modifying Technique for Pseudo-Random-Based BIST
92-1 會議論文 電機系 The Optimal Layout-Based Multi-Scan-Chain Scheme
92-1 會議論文 電機系 An Efficient Low-Overhead Policy for Constructing Multiple Scan-Chains
91-1 會議論文 電機系 An Efficient Test Strategy for Fast Multiplier Cores
90-1 會議論文 電機系 A TLS-Based Output Response Analyzer for BIST
91-1 會議論文 電機系 A Data-Path Based Diagnosis Mechanism for RTL Description of VLSI Circuits
90-1 會議論文 電機系 A Low Power All Digital If-Discriminator Design
 
 

實驗室介紹

  • 研究室名稱:前瞻性混合作業型系統實驗室
  • 研究室位置:E517
  • 實驗室簡介:本實驗室以類比積體電路設計與數位積體電路設計應用為主要研究發展方向。研究主題包含類比數位暨數位類比轉換器、三角積分調變器、鎖相迴路、電源管理、射頻電路、超低功耗電路、低功率及快速測試方案、系統晶片測試、系統晶片軟硬體共同設計、數位訊號處理器積體電路架構設計、視訊及影像壓縮系統超大型積體電路架構設計、視訊與影像矽智產設計、視訊與影像編碼演算法、數位影像處理演算法、醫學影像處理等研究。近年透過跨領與研究計畫,取得跨領域生醫電子整合研究成果,未來實驗室亦持續推動跨領域研究與產學研究合作計畫,訓練學生研究成果可學以致用之成效。

研究設備與軟體

  • 軟體:Cadance、Synopsys、Mentor、CoventorWare…等。
  • 硬體設備:ELVIS II實驗開發平台(35)、CDK 實驗發展版、CDK 擴充除錯介面、嵌入式系統模擬基板、DSP-BOARD/S80、依元素科技 DSP開發板、依元素科技 EES-137_V20影像開發、依元素科技 SOC 平台(5)、依元素科技 FPGA 平台(3)、CARRIER ICE ARM、XILINX VEL4L60、虹晶CDK(5)、ALTERA DE2-70、系統開發平台310100131-00575、邏輯分析儀16500B、邏輯分析儀TLA-5201、電源供應器DP1116A、電源供應器6303D、電源供應器HML-143、探棒電源供應器Tektronix 1103、電源供應器Agilent E3631A Triple Output DC Power Supply(2)、電源供應器E3630A Triple Supply、多功能電表2400、多功能電表Keithley 2700 Multimeter/Data Acquisition System、脈波產生器2.05GHz Synthesized Clock Generator、脈波產生器Agilent 33250A 80MHz Function/Arbitrary Wave Form Generator(2)、脈波產生器Tektronix AWG420 Arbitrary Waveform Generation、脈波產生器Agilent 81110A、信號產生器ATS-1A、訊號產生器Agilent E4422B、訊號產生器 HP 8657B、信號產生器Rohde & Schwarz Signal Generator、示波器Agilent Infiniium 54833D MSO、示波器TDS 3052、示波器DPO 3014、示波器GOS620、示波器LeCroy 1GHz、頻譜分析儀ADVANTEST R3131、函數產生器CFG-250、訊號分析儀Rohde & Schwarz、功率器HP E4418B EPM Series Power Meter、電流探棒Tektronix TCPA300, AC/DC Current Probe、伺服器HP xw4400 Workstation(8)、伺服器HP xw6400 Workstation(4)、伺服器DELL Precision T5500(2)、伺服器DELL Precision T5600(2)

研究方向與主題

超大型積體電路測試、系統晶片設計、電子設計自動化

實驗室獲獎記錄

  • 2010年全國電子設計創意競賽佳作獎
  • 2011年中華太谷盃嵌入式系統創意應用競賽第三名
  • 2012年全國電子設計創意競賽資訊類第二名
  • 2012年中華太谷盃全國性嵌入式系統創意應用競賽佳作獎
  • 2013年全國電子設計創意競賽資通類第三名
  • 2014年中華民國系統科學與工程研討會學生佳作論文獎
  • 第14屆旺宏金矽獎半導體設計與應用大賽優勝獎